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X線回折・蛍光X線回折

X線回折

試料にX線を照射するとX線が原子周りにある電子によって散乱し、干渉することで起こる回折を解析する。
この回折情報を用いることで構成成分の同定・定量、結晶サイズや結晶度を測定することが可能です。

蛍光X線回折

試料にX線を照射することで発生する固有の蛍光X線のエネルギーや強度を解析することで
試料構成元素の同定と元素含有量を定量分析行います。